1、GB10592-2008 高、低温试验箱技术条件(温度变化)
2、GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 试验A:低温试验方法
3、GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:(IEC60068-2-1:2007) 试验 B:高温试验方法
4.GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分:(IEC60068-2-78:2001) 试验 Cab:恒定试验方法
5.GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:(IEC68-2-14) 试验 N:温度变化
6.GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验方
7.GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验方
8.GB 24977-2010
9.GB/T 4893.7-2013 |